在科学实验和仪器应用领域，具特殊功能性的样品杆为多种观测需求提供了灵活而高效的解决方案，尤其是原位样品杆实现了TEM（透射电子显微镜）能在不同条件下观测样品的动态变化，包括低温变化的原位观测、磁场变化的原位观测、电场/光照变化的原位观测等。而奈米拉伸压缩样品杆正是其中一款可观测样品在奈米级拉伸变化下的状态。

以下是关于奈米拉伸压缩样品杆的详细信息：

原位观测样品每1nm拉伸下的变化：

奈米拉伸压缩样品杆通过HR（高分辨率）原位纳米级拉伸技术，可以观测样品最小至每1奈米微小拉伸且±65度范围内的变化，这种设计能让使用者实时检测样品极小尺度变形的状况，并能透过预倾斜功能观察不同角度，对于奈米级材料/结构研究极具价值。

此项具奈米拉伸功能的原位样品杆具有可从两端拉伸的优势，在样品观测上能获得更具精确度的资讯，其广泛应用于材料分析研究、满足不同实验需求提供了强大的支持。

可拆卸样品座/夹具(cartridge strcture)

奈米拉伸压缩样品杆依据不同的观测样品，提供金属材料、高分子材料两种支架夹具选择，并且其样品座设计为可拆卸式，相较于一般样品杆为不可拆卸，在使用上更为方便。

在经过FIB或切片机样品制备后，奈米拉伸压缩样品杆可先将样品安装于拆卸下来的夹具上，再将样品夹具接回样品杆上以进行拉伸实验。这些设计使得使用者能够更灵活地处理不同性质或结构的样品，以进行相应的 TEM 实验，适应不同的研究需求。

原位样品杆通过与不同领域的专家共同开发，如：双倾斜磁场样品杆、双倾斜光电场、冷冻样品杆等，其应用范围不断拓展，为材料科学、聚合物研究等领域的科学家提供了一个强大而灵活的工具。

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