在现代科学研究中，透射电子显微镜（TEM）成为了探索微观世界的强大武器。而 TEM 样品杆作为连接样品与显微镜的重要桥梁，其类型多样且各具独特作用。

首先，多功能 TEM 样品杆则如同一个多面手，具备多种功能。它可以适应不同类型的样品和实验需求，例如可以进行加热、冷却、测量等操作。这使得研究人员能够在 TEM 下进行更加复杂的实验，深入了解材料的物理、化学性质。

双倾斜探针 TEM 样品杆结合了倾斜和探针技术。通过倾斜样品，可以改变观察角度，而探针则可以对样品进行局部的电学或力学测量。这种样品杆在纳米电子学和纳米力学领域有着广泛的应用，能够揭示纳米尺度下的电子传输和力学行为。

真空转移 TEM 样品杆主要用于在不同的实验设备之间安全地转移样品。在真空环境下进行转移，可以避免样品受到污染和氧化，确保样品的质量和稳定性。这对于需要在多个设备上进行连续实验的研究来说至关重要。

FIB 转接 TEM 样品杆起到了连接聚焦离子束（FIB）设备和 TEM 的作用。通过 FIB 制备的纳米尺度样品可以方便地转移到 TEM 中进行进一步的观察和分析，实现了从样品制备到观察的无缝衔接。

双倾斜光电场 TEM 样品杆。这种样品杆具有独特的产品特色，它是双倾斜 ±20° 的原位样品杆，能够观测样品在不同施加电场下的变化。同时，在施加电场时可同步进行光照射，并且具有指定光波长的功能。比如，在 2017 年于九州大学的研究中就运用了这种样品杆。它的电场结构和高解析度影像为研究光与电场对样品的影响提供了有力的工具。

总之，不同类型的 TEM 样品杆为科学研究提供了丰富的工具和手段。它们各自的独特作用使得研究人员能够更加深入地探索微观世界，为推动科学技术的进步做出了重要贡献。‍