在现代科学研究中，透射电子显微镜（TEM）作为一种强大的工具，能够帮助科学家们深入观察微观世界的奥秘。而 TEM 样品杆则是连接样品与显微镜的关键部件，其性能直接影响着实验结果的准确性和可靠性。下面将介绍两种先进的 TEM 样品杆型号 —— 多功能 TEM 样品杆 HATA Holder 和双倾斜光电场 TEM 样品杆 Double tilt Light Electric Field Holder，根据TEM样品杆优势特点，来开启微观世界新视角。

一、多功能 TEM 样品杆 HATA Holder

型号介绍

多功能 TEM 样品杆 HATA Holder 是由 Mel-Build 公司推出的一款高性能产品，适用于 JEOL 系列的 FE、JEOL 等型号的电子显微镜。它集成了多种先进技术，为用户提供了更加便捷、高效的实验体验。

功能特点

（1）zui大倾斜角度为 ±80°，无需其他辅助工具固定旋转，操作简单方便。

（2）可搭配不同机型前端样品座，轻松切换至不同仪器上观测使用，大幅提高了便利性与安全性。

优势

（1）倾斜角度大，能够满足不同实验需求，为研究人员提供更多的观察角度。

（2）兼容性强，可与多种电子显微镜配合使用，降低了实验成本。

应用场景和领域

广泛应用于材料科学、生物学、物理学等领域。例如，在材料科学中，可用于观察纳米材料的结构和性能；在生物学中，可用于研究细胞的超微结构。

二、双倾斜光电场 TEM 样品杆 Double tilt Light Electric Field Holder

型号介绍

双倾斜光电场 TEM 样品杆 Double tilt Light Electric Field Holder 同样是一款由 Mel-Build 公司研发的创新产品。它具有独特的双倾斜设计和光电场功能，为原位实验提供了强大的支持。

功能特点

（1）双倾斜 ±20° 的原位样品杆，可观测样品在不同施加电场下的变化。

（2）施加电场时可同步进行光照射，具有指定光波长的功能。

优势

（1）能够实现电场和光场的同步施加，为研究样品的光电特性提供了便利。

（2）双倾斜设计可以更好地观察样品的不同角度，提高实验的准确性。

应用场景和领域

主要应用于半导体材料、光电材料、纳米器件等领域的研究。例如，在半导体材料的研究中，可以观察电场和光场对材料性能的影响；在纳米器件的研发中，可以研究器件的光电转换效率。

多功能 TEM 样品杆 HATA Holder 和双倾斜光电场 TEM 样品杆 Double tilt Light Electric Field Holder 是两款具有创新性和高性能的产品。它们的出现为 TEM 实验提供了更多的可能性，将在材料科学、生物学、物理学等领域发挥重要作用。‍