Mel-Build 电子式制冷SEM/FIB专用冷台

Mel-Build 电子式制冷SEM/FIB专用冷台

电子式制冷SEM/FIB专用冷台

产品规格

适用于连续切片、EBSD等应用。

温度是冷台上的温度控制装置所测量和调节的温度,而不是样品本身的温度
*温度是冷台上的温度控制装置所测量和调节的温度,而不是样品本身的温度。

基本组件

通孔法兰用于通电电缆和温度测量电缆的传输。通孔法兰的形状适配每个离子束刻蚀/扫描电子显微镜(FIB-SEM)制造商的要求。

电子式制冷SEM/FIB专用冷台基本组件
最终观察到的材料温度低于-50℃。
最终观察到的材料温度低于-50℃。

附加选项

可扩展冷台的功能和适用范围,使其能够满足不同的实验需求和应用场景。

可扩展冷台的功能和适用范围

SEM真空传输暨原位低温检测解决方案

适用于保护空气敏感样品、冷冻/原位检测、偏压(Biasing)检测,如:锂电池材料分析。

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