产品规格
适用于连续切片、EBSD等应用。
基本组件
通孔法兰用于通电电缆和温度测量电缆的传输。通孔法兰的形状适配每个离子束刻蚀/扫描电子显微镜(FIB-SEM)制造商的要求。
附加选项
可扩展冷台的功能和适用范围,使其能够满足不同的实验需求和应用场景。
SEM真空传输暨原位低温检测解决方案
适用于保护空气敏感样品、冷冻/原位检测、偏压(Biasing)检测,如:锂电池材料分析。
适用于连续切片、EBSD等应用。
通孔法兰用于通电电缆和温度测量电缆的传输。通孔法兰的形状适配每个离子束刻蚀/扫描电子显微镜(FIB-SEM)制造商的要求。
可扩展冷台的功能和适用范围,使其能够满足不同的实验需求和应用场景。
适用于保护空气敏感样品、冷冻/原位检测、偏压(Biasing)检测,如:锂电池材料分析。
环境量测/改善咨询:16621560396 | 电镜部件样品杆/样品台咨询:15201535737 | Email:kechieh@163.com
地址:上海市徐汇区中山西路1919号北科大厦B栋305室
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