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透射电镜样品杆

透射电镜样品杆:微观世界的探索利器

在科技日新月异的今天,人类对微观世界的探索从未停歇。透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)作为现代材料科学研究的重要工具,以其高分辨率和强大的分析能力,成为实验研究必不可少的重要工具。而透射电镜样品杆,作为这一精密仪器中的关键组件,更是扮演着举足轻重的角色。

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应用专栏插图4

电子显微镜震动干扰:当今实验室日益重视的问题

环境振动对电子显微镜的影响已成为现代实验室日益关注的问题。随着高科技的发展,电子显微镜的倍率提高、成像时间延长以及3D重建技术的应用,影像品质更容易受到微小震动的干扰。透过监测与详细的场地调查,甚至在必要时采用主动式减震台,都是有效的减震措施。

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电镜隔音箱

勀杰科技电镜隔音箱,实验室仪器噪音解决方案

在精密仪器和高端实验技术中,电子显微镜的使用已成为科研、医疗和工业检测中的重要手段。然而,电子显微镜在工作时,外部环境中的噪音对其正常运转可能带来很大的干扰,直接影响观测结果的精度。为了解决这一问题,电镜隔音箱应运而生,成为许多实验室的理想选择。

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应用专栏插图6
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磁场干扰EMI:瞭解并减轻交流和直流磁场

直流(DC)和交流(AC)磁场会产生磁场干扰,从而降低电子显微镜和电子束微影设备的性能,可以同时处理直流和交流的主动消磁系统是最简单且具成本效益的解决方案。本篇将将说明什么是直流磁场和交流磁场,以及磁场干扰如何影响各实验室的设备。

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应用专栏插图8
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磁场屏蔽技术推进半导体微型元件研发制程

磁场屏蔽技术对于半导体制程颇具重要性。半导体产业不断投入微型元件的研发,其工厂通常采用吊顶式单轨系统,以在站点之间运输组件以进行自动装载和加工,这些高架系统通常会产生9 kHz的磁场,这对成像品质产生极大负面影响,必须将其消除以提高解析度,恢复电子显微镜原有的效能。

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应用专栏插图9
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主动式双消磁系统:解决铁电材料研究中的磁场干扰问题

在Spectra 300 TEM上安装了2X SC24主动双消磁系统后,外部干扰已经明显改善。透过四颗磁场探头所取得的资料,可见在高度3公尺至0.5公尺范围内不论是X、Y、 Z方向其数值皆低于20nT。故Spectra 300 TEM可不受磁场干扰影响,而能以最高倍率运作、取得高品质影像。

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电子显微镜的安装规划 – 如何减少或消除干扰

为了不断提高电子显微镜解析度和成像品质,制造商的环境规范变得越来越严格,配备光谱仪的高阶显微镜只能承受高达10 或20 奈米特斯拉的干扰;在无法迁移其他设备并重新安置所有设施的情况下,可以采取不同措施来应对震动和磁场的严重性并抵消其影响。

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应用专栏插图11
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电镜环境量测系统如何选择?场地分析SC11、长期监测SC28

在许多情况下,我们必须对环境做量测或监控,以确保环境在符合标准的磁场、震动、声波等范围内。例如:在安装电子显微镜、电子束微影系统、CD-SEM 和聚焦离子束显微镜等仪器之前的环境评估、找出实验室设备运作问题的原因、长期维持敏感设备稳定度等等。

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应用专栏插图12
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电子显微镜环境干扰因素的探讨与解决方案

SEM、TEM电子显微镜是现今微米、奈米科技研发与检验的重要工具,用来观测微结构的表面形貌和物质的元素组成,然而环境周围的电磁干扰、震动、噪音也会对电子显微镜的性能造成影响,如何有效量测并分析环境具有哪些干扰因子并将干扰程度数据化,以帮助研究员选择对应的解决方案,成为了现代科学中一门重要的课题…

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应用专栏插图13
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如何提高电子束微影的良率:掌握消磁器选择的关键

2023年半导体虽然面临后疫情时代的市场挑战,先进制程微缩仍是半导体制造业的发展趋势,其中电子束微影(Electron Beam Lithography,简称EBL)更是具潜力发展的技术之一,其应用范围包含:微小电子元件、生物芯片、光学元件、量子器件、奈米结构材料、微型机械结构等领域。因此,如何在复杂技术中提高良率以降低成本,解决电磁干扰等环境问题至关重要。

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突破电子显微镜成像瓶颈—新SC24 Plus全面监控多种环境干扰、消除EMI问题
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突破电子显微镜成像瓶颈—新SC24 Plus全面监控多种环境干扰、消除EMI问题

在半导体产业中,电子显微镜是品质控管(Quality Control,简称QC)的重要工具,工程师们透过电子显微镜对晶片做微观结构分析,找出可能存在的问题与缺陷,以优化产品制程。随着微电子元件、微控制器的「微」时代来临,半导体制程需要更高倍率、更高解析的成像品质。然而,来自于外部环境的众多干扰,让高解析度成为一项挑战。

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